本文主要描述了USB接口的線纜測試的大致方法，高速USB線纜USB2.0 USB3.0 USB4.0線束特征參數(shù)測試，從2.0到4.0，傳輸速率越來越快，通道也由單通道變成兩通道，但是測試的思路和方法大致不變，只是需要用到的測試儀器，支持的帶寬需要更高。

一、USB技術(shù)的發(fā)展史

       1994年，英特爾、微軟等企業(yè)成立USB-IF聯(lián)盟，由工程師Ajay Bhatt主導(dǎo)設(shè)計，旨在終結(jié)接口混亂。兩年后USB 1.0（1.5Mbps）誕生，但直到1998年USB 1.1（12Mbps）搭配Windows 98才普及。2000年USB 2.0（480Mbps）淘汰軟盤，成為PC標(biāo)配。2008年USB 3.0（5Gbps）支持高清傳輸，藍(lán)色接口成“速度圖騰"。2013年USB 3.1（10Gbps）與Type-C橫空出世，正反盲插設(shè)計風(fēng)靡全球。2019年USB4（40Gbps）融合雷電協(xié)議，實現(xiàn)動態(tài)帶寬分配，一纜兼容數(shù)據(jù)、視頻與快充。如今，USB從單一接口發(fā)展為智能生態(tài)核心，支持PD 100W供電、擴(kuò)展塢互聯(lián)，并持續(xù)向80Gbps（USB4 v2.0）突破。其成功源于開放協(xié)作與用戶至上理念，成為連接數(shù)字世界的隱形橋梁。

二、軟件上的需求

       軟件上，主要是關(guān)注信號完整性，每個高速互連技術(shù)都繞不開信號完整性（Signal Integrity），信號完整性可以看出數(shù)據(jù)傳輸過程中有沒有變形，主要關(guān)注兩個方向，一個是頻域傳輸指標(biāo)，另一個是時域指標(biāo)，其中頻域指標(biāo)有：插損(IL)、回?fù)p(RL)、串?dāng)_(NEXT, FEXT)、模式轉(zhuǎn)換(Mode Conversion)、屏蔽效應(yīng)(EMI, RFI)，時域指標(biāo)有：時域阻抗(Impedance)、上升時間(Rise Time)、時間差(Skew)、振鈴(Ringing: overshoot, undershoot)、電平(Level)、抖動(Jitter)、眼圖(Eye Diagram)、誤碼率(BER)。 以上這些指標(biāo)，需要基于硬件上采樣成功的前提下。

三、USB互連技術(shù)測試

       硬件上主要根據(jù)接口版本，選擇合適帶寬和端口數(shù)的網(wǎng)絡(luò)分析儀，網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)置信號源和接收機(jī)，可以很好的測試插入損耗、回波損耗等S參數(shù)，這和信號完整性需要的硬件基礎(chǔ)相契合，所以成了大家的選擇，此外還需要制作相應(yīng)的夾具，引出數(shù)據(jù)傳輸通道。其實不局限于USB傳輸線纜，像802.3、PCIe這種多通道接口，也可以用網(wǎng)絡(luò)分析儀去測試，不同的是他的接口很多，所以常常會搭配開關(guān)矩陣。